半导体激光二极管可靠性老化测试系统

半导体激光二极管可靠性老化测试系统

LHX-302-COC激光器可靠性与老化测试系统

采用LHX-302-COC半导体激光器寿命和老化测试系统,可以减少测试成本,提高测试效率。系统包含40个可独立加温及加载电流的老化抽屉,最多可支持1280个器件的测试。您可以同时进行多个独立的测试,提高产量,降低成本。

产品描述

LHX-302-COC的系统设计非常弹性,允许您在一个系统测试多种不同的封装形式,只需更换不同的老化抽屉即可。系统支持ACC和LIV测试,每一个通道的电流典型值为200mA,可最大定制到2000mA输出。

Reliability Sys软件可以帮助您更加快捷的进行测试。您可以方便的配置多种器件类型和测试方式,软件自动分析、保存及导出测试结果,提供多种报错模式处理,不需要客户进行任何额外的编程,即使掉电也不会影响到数据的完整性。也可以将数据导入到csv文件中,通过其它软件分析。

产品特点

  • 可同时老化最多达1280 个激光器
  • 温度控制范围从40°C到150°C
  • 电流以抽屉为单位输出
  • 支持TO、蝶形、COC及定制封装
  • 探针间距300µm(可支持定制至170µm)
  • 电流范围可达到2000mA
  • 电流模式:ACC、APC(定制)、LIV
  • 热插拔,操作简便,数据管理安全可靠
  • 模块化设计,便于扩展
老化电源
老化电源
LIV测试系统
LIV测试系统
32通道COC夹具
32通道COC夹具
300µm间距探针落点重复性测试
300µm间距探针落点重复性测试
电流长时稳定性±0.25mA

基于我们多年的半导体激光器精密控制和测试技术,LHX-302-COC为您提供长时间稳定的老化和寿命测试系统,帮助您得到精确的测试结果,而且重复性好。

温控长时稳定性±2度

系统集成高稳定性温控模块,温度长时稳定性(>48小时)±2度。

每一个抽屉可装载32个器件,测试可靠性高

为了帮助客户在bb彩票网通讯激光器市场取得领先,我们特别注重材料选择和夹具机械设计方面,以帮助客户以较低的成本得到高可靠性的老化系统。

多通道同步测试,可满足研发中的弹性需要

与老化配合使用的LIV-302测试系统,可以对抽屉内的32个器件同时进行LIV扫描,得到精确的测试数据。阈值计算重复精度可达3%以内。

系统参数

系统容量

1280

夹持类型

TO-Can, COC, 定制

容量/夹具

32

温度控制

温控范围(℃)

40 ~ 150

温控单元

单个夹具

温控精度(℃)

±2.0

温控均匀度(℃)

<2

温控稳定性(℃, >24h)

±2

激光器控制

输出极性

单极性

电流特性

电流范围(mA)

2 ~ 200

电流设置精度(mA)

0.5

电流稳定性(mA, >24h)

±0.25

顺从电压(V)

3.0,可根据需要定制更高电压

控制模式

ACC, LIV

测量功能
激光器电流

电流测量分辨率(mA)

0.1

电流测量精度

1%RD+0.2%FS

激光器电压

电压范围(V)

5

电压测量精度(mV)

1%RD+0.5%FS

外部PD监测

波长范围(nm)

400 ~ 1600

功率测量范围(mW)

0 ~ 10

长时稳定性(>24h)

±0.18% of F.S.

测量模式

相对

测试夹具

管脚定义

根据用户需求定制

探针间距(um)

300,最小可定制到170um

系统控制计算机及监控软件

计算机类型

工控机(嵌入机柜)

最低配置

2 GHz Dual Core CPU,8GB RAM,100GB HDD

UPS电池操作

>30分钟

电源

115/230 VAC,50/60 Hz,单相,6A

操作系统

Microsoft Windows® 7 or newer

监控软件

Reliability Sys

一般特性

尺寸(H×W×D)(m)

2 x 1.3 x 0.9

重量(kg)

<500

电源

200 ~ 240 VAC,50/60 Hz,三相

功率

<15KW


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